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IM7587 阻抗分析儀 IM7587 阻抗分析儀可信賴的機型3GHz ● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz ● 測量時間：Z快0.5ms（模擬測量時間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ● ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量

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2023-11-12

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3504-60 C測試儀 3504-60 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

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2023-11-12

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3504-50 C測試儀 3504-50 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

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3504-40 C測試儀 3504-40 C測試儀封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷 ● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試 ● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

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3506-10 LCR測試儀 3506-10 LCR測試儀對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量 ● 根據BIN的測定區分容量

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3511-50 LCR測試儀 3511-50 LCR測試儀精巧，非常專業，5ms快速測量LCR ● 高速測量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz） ● 高精度： ± 0.08% ● 內置比較器

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2023-11-12

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